Producto
Sistema de Tomografía Computerizada de Rayos-X
Sistema microCT experto para I+D, análisis de defectos o metrología CT. Está diseñado para inspecciones de componentes y objetos pequeños en la industria electrónica, ciencia de materiales y otras áreas de investigación.
- Análisis precisos de materiales en aplicaciones de laboratorio.
- Visibilidad detallada en 2D de hasta 150 nm con tubo de transmisión de 190 kV
- Manipulación precisa y estabilidad de la temperatura gracias a la base de granito.
- Interfaz gráfica de usuario intuitiva con Geminy con pantallas táctiles
- Versión de metrología opcional con MPESD = 3,9 µm + L/75 [L en mm]
El continuo desarrollo e inversión para estar cerca de nuestros clientes nos permite disponer de una amplia cobertura geográfica con sedes en las principales ciudades de España y Portugal, y soporte comercial y técnico en todas las comunidades que nos sitúa SIEMPRE CERCA DE USTED.
T. 900 810 061
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