Producto

JEM- F200 F2


Microscopio TEM de Jeol F2 avanzado
JEM- F200 F2

Nuevo microscopio TEM de Jeol F2 avanzado, analítico de alto rendimiento con 200kV y S/TEM de su clase que permite seleccionar un cañón emisión de campo frio o caliente con detectores EDX SDD duales.

Debido  la versatilidad de este nuevo equipo, el F200 puede ser configurado para obtener la mayor resolución dentro de los equipos de su gama tanto para aplicaciones de materiales, como para aplicaciones biológicas, siendo perfectamente compatible el trabajo en Crio-microscopía con el trabajo a temperatura ambiente

  • El microscopio F2 proporciona un alto brillo y una baja dispersión en energía lo que hace de este microscopio una herramienta de última generación con capacidad para realizar análisis EELS. La posibilidad de EDX (SDD) dual lo dota de la más alta sensibilidad y el mayor rendimiento en el análisis de rayos X.
  • El microscopio F2 está dotado con una nueva óptica electrónica sistema de lentes condensadoras ‘Quad-Lens’ que permite un amplio abanico de modos de imagen, campo claro campo oscuro en TEM e imagen STEM con una amplia variedad de detectores. El microscopio F2 y su nueva óptica electrónica de cuatro etapas ‘Quad-Lens’ permite controlar la intensidad y el ángulo de convergencia del haz de forma independiente para dar respuesta a las necesidades más exigentes y diversas.
  • El microscopio JEM-F200 incorpora un nuevo goniómetro ‘Pico Stage Drive’ con capacidad de realizar movimientos de 200 pico metros mediante movimiento piezo eléctrico y mover la zona de visión en un amplio rango, toda la rejilla o en imágenes de resolución atómica.
  • Sistema de carga y descarga automática ‘Specporter’ es un nuevo dispositivo que facilita la introducción de muestras y evita los errores de operación, especialmente para usuarios nóveles, permite insertar y sacar el portamuestras de manera segura mediante un solo click.
  • Por primera vez como estándar en un microscopio electrónico de transmisión incorpora un sistema ECO para el mantenimiento de las condiciones óptimas del microscopio con un nivel mínimo de consumo de energía cuando no está siendo operado. El sistema Eco puede reducir la energía a 1/5 parte del consumo en modo normal de operación.

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