JEOL


Jeol

 

Líder mundial en equipos e instrumentación óptica de electrones para investigación y desarrollo científico e industrial de alto nivel.

Los grupos de productos principales incluyen microscopios electrónicos de barrido, microscopios electrónicos de transmisión, microsondas, barrenas, litografía por haz de electrones (escritura directa y fotomáscara), espectrómetros de masas (incluidos DART e ionización ambiental), RMN y ESR, también equipos médicos e industriales para pruebas de alto calibre. 

¿En qué puedo ayudarte?


Ignacio Esteban

Ignacio Esteban

Product Manager

iesteban@izasascientific.com

JSM-IT510

El JSM-IT510 es un nuevo modelo de la serie JEOL InTouchScope 

JEM-1400 Flash

JEM-1400 Flash de Jeol. Un microscopio TEM compacto y fácil de usar:

Neoscope JCM-6000
Microscopio electrónico de barrido de sobremesa con modos de alto y bajo vacío y 3 voltajes de aceleración accesibles.
JXA-iHP100

La nueva microsonda JXA-iHP200 de Jeol con cañón LaB6

JEM- F200 F2
Microscopio TEM de Jeol F2 avanzado
JEM-ARM300F2

Microscopio electrónico JEM-ARM300F2 GRAND ARM ™ 2 de Jeol

JEM-2100 Plus

Microscopio Electrónico JEM-2100Plus con un nuevo diseño y un nuevo interfaz de usuario que trabaja en Windows 64 bit.

JXA-iHP200

Microsonda JXA-iHP200 con cañón de emisión de campo

Espectrómetros RMN Serie ECZ Luminous

Espectrómetros RMN de alto campo equipados con tecnología digital y de alta frecuencia de última generación para ensayos en resonancia múltiple en una configuración estándar.

NeoARM

Microscopio electrónico de la serie ARM de Jeol

CRYO ARM 300 II

Criomicroscopio electrónico especializado en la observación de muestras sensibles al haz de electrones

Electron Beam Lithography, JBX-8100FS

Sistema de electron beam lithography

JSM-IT710 HR

SEM de emisión de campo InTouchScope ™ JSM-IT710HR de Jeol

CRYO ARM 200

Criomicroscopio CRYO ARM ™ 200 de Jeol, adquiere automáticamente datos de imagen para el análisis de partículas individuales

JSM-IT800

El SEM de emisión de campo de ultra alta resolución JEOL IT800 es un FE-SEM revolucionario con la tecnología analítica de alta resolución más avanzada disponible en la actualidad.

JSM-IT210

La serie JSM-IT210 InTouchScope SEM son microscopios electrónicos de barrido compactos y versátiles que ofrecen un gran valor con la funcionalidad que solo esperaría de los SEM de gama alta