Produto
JEM-ARM300F2
Microscópio eletrónico JEM-ARM300F2 GRAND ARM ™ 2 da Jeol
O JEM-ARM300F2 GRAND ARM ™ 2 combina várias caraterísticas novas com a tecnologia comprovada inerente à família do GRAND ARM2, a opção preferida para todas as necessidades da microscopia eletrónica com correção de aberrações:
- Um novo desenho de peça polar aceita detetores EDS duais de grande área, o que permite a caraterização química de alta velocidade e alta sensibilidade sem sacrificar a resolução espacial.
- Caraterísticas de série, como um canhão frio, un detetor HAADF híbrido para aumentar a S/N em todo o intervalo operativo de 40-300kV e um contraste de elementos de luz melhorado através de imagens e-ABF.
- Sem compromisso na resolução espacial
O contínuo desenvolvimento e investimento para estar próximo dos nossos clientes levou-nos a dispor de uma ampla cobertura geográfica com sedes nas principais cidades em Espanha e Portugal, e apoio comercial e técnico em todas as áreas territoriais permite-nos estar SEMPRE PERTO DE SI.
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